Código NCM
9031.41.00
-- Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Capítulo 90 · Posição 9031 · SH6 9031.41
Notas NESH e Informações Técnicas
1 de subposição · 1 de posição · 11 de capítulo
SubposiçãoSubposição 9031.41
9031.41 -- Para controle de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos
integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação
de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
PosiçãoPosição 90.31
90.31 - Instrumentos, aparelhos e máquinas de medida ou controle, não especificados nem
compreendidos noutras posições do presente Capítulo; projetores de perfis (+).
CapítuloCapítulo 90
Capítulo 90, etc.); estas partes seguem o regime da própria máquina ou classificam-se, quando for o caso, na posição
específica que lhes compete.
b) As partes que se classificam nas posições 84.81 a 84.84.
c) As partes que se incluam mais especificamente noutras posições da N...